由于掃描電鏡顯微鏡的高分辨率和大焦深，使得它可以對各種化學物質進行非常詳細的分析。它打破了傳統臺式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性，利用創新的雙聚光鏡成像技術，采用大型掃描電鏡成像方式，使用二次電子探測器作為基礎成像單元，從而，可以獲得更高的分辨率，是真正意義上的高分辨率臺式掃描電鏡。
在檢查半導體和微電子器件時，需要靈活選擇和使用操作參數(加速電壓、樣品傾斜、掃描線時間等)以及正確的分析程序，以獲得最大的信息。QFN器件中由濕熱環境(如吸濕)引起的界面裂紋很常見，會導致器件失效。掃描電鏡顯微鏡可以用來尋找任何裂縫。用戶可以看到這些裂縫位于界面的哪個連接處以及它們的擴展方向。由于裂紋與界面強度有關，因此裂紋信息可用于評估對QFN器件研究的實際意義。
掃描電鏡顯微鏡通常在高真空狀態下工作。然而，在低真空中，可以觀察到未涂覆導電材料的樣品。在高真空下，充電效應不可避免。通過在低真空下對樣品成像，減少了充電效應，圖像更加清晰。最初，為了查看整個樣本，用戶必須分別拍攝圖像并手動合成。然而，利用掃描電鏡的全景拍攝，選定區域的多個圖像被自動捕獲和組合。它標準配置的兩軸馬達驅動樣品臺，全自動真空系統，全自動的電子光學調控系統，可以讓用戶從開始到結束都可以用手指在觸摸屏上進行操作。除了全自動功能以外，掃描電鏡還提供給更加的用戶所有手動調節功能，使得儀器幾乎具備大型機所有的調節功能，從而獲得更佳的圖像品質。
